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场发射扫描电子显微镜

JSM-IT810场发射扫描电子显微镜 JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。此外...
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日本电子IT210 扫描电镜

JSM-IT210 扫描电镜是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple SEM”，只需选好微区就能自动观察和分析。JSM-IT210 扫...
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日本电子SEM

JSM-IT510 InTouchScope™ 日本电子SEM不仅是开展科研工作所不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是*。在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这...
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扫描电镜价格

JSM-IT210 InTouchScope™ 扫描电镜价格不仅是开展科研工作所不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是*。在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些...
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JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪

JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法?检量线法）、RoHS元素筛选功能等。　利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更...
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双束加工观察系统

随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求，JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。
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JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统

JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速的镓离子束经聚焦照射样品后，能对样品表面进行SIM观察、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜...
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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪

JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。
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CP截面样品制备装置

IB-19520CCP截面样品制备装置在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。...
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IB-19530CP截面样品制备装置

IB-19530CP截面样品制备装置为了满足市场多样化的需求，IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。
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离子切片仪

EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6&...
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日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析

日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了高的能量分辨率。 ...
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JEOL 日本电子扫描电镜钨灯丝MA113008

JEOL日本电子钨灯丝MA113008 可用于多种日本电子灯丝耗材更换
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场发射扫描电子显微镜

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热场发射扫描电子显微镜

JSM-IT710HR 热场发射扫描电子显微镜清晰的可见性促进新发现！目前，除了纳米级的分辨率和分析性能外，数据采集的处理能力也被认为是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能轻...
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日本电子IT210 扫描电镜

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ROHS金属成分分析仪

ROHS金属成分分析仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了高的能量分辨率。和EDS一样可以并行检...
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关于星空官方网站入口星空官方网站主要是一家专门从事进口仪器设备销售公司。主要服务于华东，华中，华南地区形成了一个覆盖中国沿海地区，并延伸至内地的销售网络。我们服务项目包含仪器销售，维修，安装，仪器校准，保养等，是一加集进口，销售，安装，服务一体的进口仪器销售公司，公司秉承“技术至上，服务进取”的经营理念，坚持“客户第一”的原则为广大客户提供优质的服务。欢迎广大客户惠顾！星空官方网站主要合作品牌有：星空官方网站入口,安捷伦AGILENT,岛津SHIMADZU,日本电子JEOL,牛津仪器Oxford,日本尼康NIKON等品牌产品。主要销售产品为各式液相色谱，气相色谱，光谱仪，质谱仪，光学显微镜，扫描电镜，X光检查机，x光荧光分析仪等相关仪器。星空官方网站入口客户群为电子行业，钢铁行业，矿产，生物，医疗，材料等各种领域。为客户提供优良的解决方案及优秀的服务，用自身技术协助解决用户的现实问题。欢迎广大客户来电指导，共同学习探讨。

2014年
成立时间
2200万
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365天
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2026
1-30

日本电子发布混合探测器：二次电子+阴极荧光，SEM成像分析一步提效
在材料检测与研发中，科研人员常常面临一个抉择：用扫描电镜（SEM）看清样品形貌后，若想进一步分析其成分、缺陷或发光特性，往往需要切换模式、更换探测器，甚至动用另一台专用设备。这个过程耗时耗力，还可能丢失关键的原位关联信息。日本电子（JEOL）发布的应用文档，展示了一款低真空混合二次电子探测器（LHSED）如何为解决这一痛点提供新思路。它并非要取代任何专用分析设备，而是通过硬件创新，让一台常规的扫描电镜在完成本职高分辨率形貌成像的同时，近期我司新推出升级了额外具备了快速获取材料...
2025
10-24

从结构到应用：一文读懂钨灯丝扫描电子显微镜
在现代科学研究和工业检测中，扫描电子显微镜（SEM）已经成为一种重要的工具。而钨灯丝扫描电子显微镜（W-SEM）作为其中一种常见类型，以其独特的结构和广泛的应用，为微观世界的探索提供了强大的支持。本文将带你深入了解它的结构原理及其在各个领域的应用。一、结构原理：微观世界的“探照灯”钨灯丝扫描电子显微镜的核心在于其电子发射源——钨灯丝。钨因其高熔点和良好的电子发射性能，被制成细丝并置于高真空腔体内。当电流通过钨灯丝时，它会加热到白炽状态，释放出电子。这些电子在高电压的作用下被加...
2025
9-22

扫描电子显微镜应用指南
扫描电子显微镜作为现代科学研究中的工具以其高分辨率、多种信号检测和广泛的放大范围等特性，广泛应用于材料科学、生物学、医学、地质学等多个领域。本文将为您提供一份它的应用指南，帮助您更好地利用这一强大的微观分析工具。一、样品制备：确保高质量成像的关键（一）样品选择与处理在使用扫描电子显微镜之前，样品的选择和处理至关重要。样品应具有代表性，能够反映研究对象的特性。对于固体样品，通常需要进行切割、研磨和抛光，以获得平整的表面。对于粉末样品，可以直接将其压制成薄片或涂覆在导电基底上。生...
2025
7-14

ROHS金属成分分析仪在实验室中的操作指南
ROHS金属成分分析仪是一种用于检测金属材料中特定元素含量的先进设备，广泛应用于电子、汽车、玩具等行业，以确保产品符合环保标准。在实验室中，正确操作ROHS金属成分仪对于获得准确可靠的检测结果至关重要。以下是ROHS金属成分分析仪在实验室中的操作步骤和注意事项。一、准备工作（一）设备检查在开始操作之前，首先需要对ROHS金属成分仪进行全面检查。确保设备处于良好的工作状态，包括检查电源连接是否正常、设备表面是否清洁、样品仓是否干净等。这些检查可以避免因设备故障导致的测量误差。（...
2025
6-12

低温冷冻离子切片仪的创新点
低温冷冻离子切片仪是一种用于制备透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）样品的先进设备，尤其适用于对热敏感的样品。近年来，该技术在多个方面取得了显著的创新和改进，以下是其主要创新点：1.液氮制冷技术传统的离子切片仪在制备样品时，离子束的高能量会对样品造成热损伤，尤其是对生物样品和软材料。低温冷冻离子切片仪通过液氮制冷技术，将样品冷却至ji低温度（如-120℃），显著减少了离子束对样品的热损伤。这种冷却系统不仅能够有效保护样品的结构完整性，还能延长冷却保持时间，最长可...
2025
5-14

截面抛光仪：高效制备，提升科研效率
无论是分析材料的微观组织、研究矿物的内部成分，还是观察半导体器件的层间结构，高质量的截面样品都是准确表征和分析的基础。然而，传统的截面制备方法往往耗时费力，且难以获得理想的平整度和清晰度。截面抛光仪的出现，为这一难题提供了高效的解决方案，显著提升了科研效率和样品制备质量。高效制备，节省时间与精力截面抛光仪通过自动化和智能化的设计，极大地提高了截面样品的制备效率。传统手工制备截面样品时，需要经过切割、研磨、抛光等多个繁琐步骤，且每个步骤都需要人工操作，费时费力。而抛光仪能够将这...

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技术文章

扫描电镜日常维护与常见故障排查指南

日常维护环境控制：确保实验室温度稳定在20-25℃，湿度控制在40-60%之间，避免温度波动和湿度过高对设备造成损害。同时，将电镜安装在独立的防震台上，远离振动源，以减少外部振动对仪器内部精密部件的影响。清洁保养：定期清洁样品室，使用无尘布蘸取适量酒精擦拭，以去除残留的污染物。每月检查电子枪的灯丝状态，如发现老化或损坏，应及时更换。定期观察真空系统中油窗的颜色变化，如发现油色变深，表明扩散泵油已老化，需及时更换。每季度使用专用气吹对二次电子探测器进行清洁，防止灰尘积累影响探测...

2026-3-25
ROHS金属成分分析仪的样品制备技巧与重金属检测结果精准度优化方法

在ROHS合规检测中，金属成分分析仪的检测结果精准度直接关系到产品是否符合环保标准，而样品制备作为检测流程的首要环节，其规范性、科学性直接影响后续检测数据的可靠性。优质的样品制备的核心是消除样品干扰、保证样品代表性，结合检测实践，优化样品制备技巧与检测流程，能有效提升重金属检测的精准度，为ROHS合规判定提供可靠依据。样品制备需遵循代表性、均匀性、清洁性三大原则，核心技巧围绕不同形态金属样品的处理展开。对于固体金属样品，首先需去除表面氧化层、油污及涂层，避免这些杂质干扰检测信...

2026-3-24
影响ROHS金属成分分析仪检测准确性的关键因素及针对性解决办法

ROHS金属成分分析仪是电子电气产品合规检测的核心设备，其检测准确性直接关系到产品是否符合环保标准，避免企业因合规问题面临处罚。在实际应用中，检测结果偏差常由样品、仪器、环境、操作等多方面因素共同引发，需精准识别关键影响点并采取针对性措施，才能保障检测数据的可靠性与quan威性。样品处理不当是影响检测准确性的首要因素。金属样品表面若存在油污、氧化层或涂层，会阻碍检测射线与待测元素的相互作用，导致检测结果偏低；样品颗粒度过大、分布不均，会形成“检测死角”，使局部有害物质未被检出...

2026-3-20
ROHS金属成分分析仪在电子元器件、金属配件ROHS合规管控中的应用价值解析

随着全球环保理念的深化和国际贸易壁垒的收紧，ROHS合规已成为电子元器件、金属配件生产、流通及出口的核心门槛。ROHS指令严格限制铅、汞、镉、六价铬等有害金属元素的使用，而电子元器件中的焊料、镀层，金属配件中的合金材质等，均是有害金属易超标环节。ROHS金属成分分析仪作为合规管控的核心设备，凭借其精准、高效、便捷的检测优势，为企业规避合规风险、优化生产管控、提升市场竞争力提供了重要支撑，其应用价值贯穿于产品全生命周期。在源头管控环节，ROHS金属成分分析仪有效筑牢合规第一道防...

2026-3-17
JEOL扫描电镜常见故障原因分析与排除方法

JEOL扫描电镜作为高精度分析仪器，在使用中可能遇到多种故障，以下为常见故障及其原因分析与排除方法：一、图像问题故障现象：图像模糊、失真或存在噪声。原因分析：电子束不稳定或聚焦不良，可能由电子枪故障、透镜污染或合轴不准引起。样品导电性差，导致充电效应，影响图像质量。探测器灵敏度下降或损坏，如闪烁体污染或光电倍增管失效。排除方法：检查电子枪和透镜状态，清洁或更换污染部件，调整合轴。对样品进行导电处理，如喷金或喷碳，以减少充电效应。检查探测器，清洁闪烁体或更换损坏部件。二、真空系...

2026-3-16
ROHS金属成分分析仪操作流程、校准规范与重金属元素精准检测实用技巧

在电子电气产品生产、进出口检测等领域，ROHS金属成分分析仪是管控铅、镉、汞、六价铬等有害重金属的核心设备，其操作规范性、校准科学性直接决定检测结果的准确性，进而保障产品符合ROHS环保指令要求。以下结合实操经验，详细梳理其操作流程、校准规范及精准检测实用技巧，为相关从业人员提供参考。规范的操作流程是精准检测的基础，需严格遵循“准备-检测-收尾”三步法。操作前，需检查仪器外观无破损，电源线、数据线连接稳固，清理X射线管及探测器窗口，避免异物遮挡。同时控制检测环境，确保无强电磁...

2026-3-13
扫描电子显微镜工作原理与技术架构全景解析

扫描电子显微镜（SEM）通过高能电子束与样品表面的相互作用，实现纳米级分辨率的微观形貌与成分分析。其核心工作原理基于电子-物质相互作用产生的信号采集与同步成像，技术架构涵盖四大核心系统。一、工作原理：电子束扫描与信号同步成像电子束生成与聚焦电子枪（如场发射或钨灯丝）发射电子束，经加速电压（0.02-30kV）加速后，通过电磁透镜聚焦成纳米级光斑。例如，蔡司GeminiSEM500的分辨率可达0.6nm@15kV，束斑直径仅1.1nm@1kV。样品表面扫描与信号激发扫描线圈驱动...

2026-1-30
JEOL 表面分析技术

面分析是用于揭示材料表面数纳米至数微米深度范围内的元素组成、化学状态及微观结构的分析技术。该技术能够从原子尺度认识和说明材料表面的物理化学变化及其与表面有关的宏观性质的联系。腐蚀、磨损、黏附及其他影响材料性能和可靠性的反应主要发生于材料表层，因此表面分析在材料评估、质量控制和失效分析中具有关键作用。表面分析技术有数十种，而且新的分析方法仍在不断出现，在实际分析过程中，需综合考虑样品的具体位置、尺寸、材质状态以及分析目的，选取最适宜的分析方法。表面分析仪器的类型和特征表面分析仪...

2026-1-30